Patent DE102025100487A1 – Messung der Zusammensetzung von Lackteilchen in der Spritzlackierung
DE102025100487A1 beschreibt, wie sich die Zusammensetzung bewegter Lackteilchen während der Spritzlackierung messen lässt. Die Reihenfolge der …
Patent DE102014211514B4: Optische Partikelcharakterisierung in einem Strömungsmedium
Das Patent DE102014211514B4 betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung von Eigenschaften von Partikeln in einem Strömungsmedium. Die …
Patent DE102023134228A1 – Maschinelles Lernen ersetzt optische Hardware bei der Teilchencharakterisierung
DE102023134228A1 beschreibt, wie ein Modell des maschinellen Lernens Teilchen anhand eines einzigen Streulichtsignals charakterisiert. Das Modell …
Patent DE102023127552A1 – Oszillierende Streulichtsignale für die KI-basierte Partikelanalyse
DE102023127552A1 beschreibt ein optisches Verfahren zur Erzeugung oszillierender Streulichtsignale. Das Verfahren unterstützt die Analyse von …
Patent DE102023110189A1 – Kalibrierfreie optische Durchmessermessung mittels Abschattungstechnik
Das Patent DE102023110189A1 beschreibt ein berührungsloses optisches Verfahren zur Bestimmung des Radius oder Durchmessers eines nahezu …
Patent DE102015101639A1 – Verfahren zur Auswertung des zeitaufgelösten Intensitätsverlaufs einer einem Messobjekt zugeordneten Strahlung
Dieses Patent ist für Fortschritte in der Partikeldetektion in wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen relevant. Das Patent DE102015101639A1 …