专利DE102025100487A1——喷涂中涂料液滴成分的测量
DE102025100487A1描述了如何在喷涂过程中测量运动涂料液滴的成分。两个探测器上光散射峰的先后顺序可区分半透明液滴与不透明液滴。
专利DE102014211514B4：流动介质中颗粒的光学表征
专利DE102014211514B4涉及一种用于确定流动介质中颗粒特性的方法和装置。该发明通过分析穿过测量体积的颗粒、液滴或类似物体的光散射信号，为光学颗粒表征和喷雾诊断提供支持。https://patents.google.com/patent/DE102014211514B4/ …
专利DE102023134228A1——机器学习替代颗粒表征中的光学硬件
DE102023134228A1描述了机器学习模型如何从单一散射光信号中表征颗粒。该模型先利用较大型主装置的数据进行训练，随后即可配合仅含一个光源和一个探测器的精简装置工作。
专利DE102023127552A1——用于基于AI的颗粒分析的振荡散射光信号
DE102023127552A1描述了一种产生振荡散射光信号的光学方法，有助于分析技术流动过程中的颗粒、液滴和喷雾。该发明采用整形光束和受控偏振。当颗粒穿过光束时，会产生具有振荡结构的散射光信号。该信号包含有关
专利DE102023110189A1——基于阴影技术的免标定光学直径测量
专利DE102023110189A1描述了一种用于确定近似旋转对称部件半径或直径的非接触式光学方法。该系统利用发散光束和特殊布置的线阵探测器，在生产过程中记录部件被放大的阴影。该方法专为以下应用而开发：手动接触式测量过于
专利DE102015101639A1——用于评估与被测对象相关的辐射的时间分辨强度曲线的方法
该专利与科学及工业应用中颗粒检测技术的进步密切相关。专利DE102015101639A1描述了一种用于评估与被测对象（尤其是流动中的液滴、颗粒或类似对象）相关的辐射的时间分辨强度曲线的方法。该发明着眼于TSTOF设备中可靠的信号评估，有助于识别测得强度值中的有用部分